介電常數測試儀生產廠家特點： 

◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數：Q值，測試頻率，調諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動/手動量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。獨立信號   源輸出口，所以本機又是一臺合成信號源。

◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

介電常數測試儀生產廠家主要技術指標：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

工作頻率范圍：50kHz～50MHz    四位數顯，壓控振蕩器

Q值測量范圍：1～1000三位數顯，±1Q分辨率

可調電容范圍：40～500 pF  ΔC±3pF

電容測量誤差：±1%±1pF

Q表殘余電感值：約20nH

使用方法

1. 被測樣品的準備

被測樣品要求為園形，直徑25.4～27mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1～5mm之間，如太薄或太厚則測試精度就會下降，樣品要盡可能平直。

下面推薦一種能提高測試精確性的方法：準備二片厚0.05mm的園形錫膜，直徑和平板電容器極片*，錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林，它起粘著作用，又能排除接觸面之間殘余空氣，把

錫膜再粘在平板電容器兩個極片上，粘好后，極片呈鏡面狀為佳，然后放上被測樣品。

測試順序

先要詳細了解配用Q表的使用方法，操作時，要避免人體感應的影響。

1. 把配用的Q表主調諧電容置于zui小電容量，微調電容置于－3pF。
2. 把本測試裝置插到Q 表測試回路的“電容”兩個端子上。
3. 配上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈
4. 調節(jié)平板電容器測微桿，使二極片相接為止，讀取刻度值記為D_O。
5. 再松開二極片，把被測樣品插入二極片之間，調節(jié)平板電容器，到二極片夾住樣品止（注意調節(jié)時要用測微桿，以免夾得過緊或過松），這時能讀取新的刻度值，記為D₁，這時樣品厚度D₂= D₁－D₀。
6. 把園筒電容器置于5mm處。
7. 改變配合Q表頻率，使之諧振，讀得Q值。
8. 先順時針方向，后逆時針方向，調節(jié)園筒電容器，讀取當Q表指示Q值為原值的一半時測微桿上二個刻度值，取這二個值之差，記為M₁。
9. 再調節(jié)園筒電容器，使Q表再次諧振。
10. 取出平板電容器中的樣品，這時Q表又失諧，調節(jié)平

板電容器，使再諧振，讀取測微桿上的讀值D₃，其變化值為

D₄= D₃－D₀。

1. 和h款操作一樣，得到新的二個值之差，記為M₂。

3.  計算測試結果

被測樣品的介電常數：

Σ＝D₂ / D₄

被測樣品的損耗角正切值：

     tgδ＝K（M₁－M₂ ）/ 15.5

式中：K為園筒電容器線性變化率，一般為0.33 / mm，每個測試夾具在盒蓋內標有具體數值。

一般按以上公式計算的結果，其精度和重復性是能滿足的，但對介電常數大的被測樣品（即樣品從平板樣品放入和取出，平板電容器刻度值變化較大），邊緣效應電容對測試會有較顯著的影響，這時可按下列公式計算：

Σ＝（C₂ + C_F2－C_F）/ C₁

tgδ＝K（M₁－M₂ ）/ 3.46（C₂ + C_F2－C_F）/ C₁